沖擊試樣缺口投影儀原理

隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)對夏比V型U型缺口沖擊試驗要求越來越高， 日前國內(nèi)諸如航空、航天、兵器、鍋爐壓力容器、冶金和機械等行業(yè)已普遍采用夏比V型U型缺口沖擊試驗取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗。根據(jù)國內(nèi)廣大用戶的實際需求和國標GB/T229-2020《金屬材料夏比擺錘試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型（深2mm）和U型（深2mm）沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學儀器，是廣大冶金、鍋爐壓力容器、車船和工程機械制造及科研等部門理化實驗室的專用設備。也可根據(jù)客戶的要求定做，滿足檢測 3mm 或 5mm 沖擊試樣缺口的需要。

對于夏比V型U型缺口沖擊試驗，由于試樣V型U型缺口要求嚴格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口根部要求R0.25±0.025mm），故在整個試驗過程中，試樣的V型U型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口根部的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會引起試驗結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品或報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。用數(shù)字光學投影放大檢查是切實可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。TOP-IG型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2020《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學儀器。